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X光測(cè)厚儀
簡(jiǎn)要描述：X光測(cè)厚儀可通過(guò)CCD攝相機(jī)來(lái)觀察及選擇微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量。避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
產(chǎn)品型號(hào)：日本精工- 廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
- 更新時(shí)間：2023-03-15
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：2016
詳情介紹
研究開(kāi)發(fā)出日本*臺(tái)熒光x射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-155經(jīng)過(guò)20多年的努力。現(xiàn)在的熒光x射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x能夠正確的測(cè)量微小面積的鍍層厚度。已為*電子另部件；印刷電路版；汽車(chē)另部件；各種電鍍產(chǎn)品生產(chǎn)及相關(guān)廠(chǎng)商所谻同。從此。“SFT”“XRF”幾乎成為鍍層厚度測(cè)量?jī)x的代名豤。本公司是美國(guó)熱電在中國(guó)和香港地區(qū)的代理和售后維修服務(wù)中心。
X光測(cè)厚儀特征 ：
1可測(cè)量電鍍；蒸鍍 離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2可通過(guò)CCD攝相機(jī)來(lái)觀察及選擇微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量。避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
3備有250個(gè)以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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