X-射線鍍層測(cè)厚儀的特征：
　　1.可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
　　2.可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
　　3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
　　
　　韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測(cè)厚儀（全新*）
　　XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢*，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大／開放式的樣品臺(tái)，可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。
　　可測(cè)元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92.
　　準(zhǔn)直器：固定種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
　　自動(dòng)種類大小：可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
　　電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機(jī)
　　綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能